Оборудование · 10
Порошковый дифрактометр D8 Advance diffractometer
Порошковый дифрактометр предназначен для количественного и качественного рентгеноструктурного анализа, индицирования и определения параметров ячейки, определения размеров кристаллитов, определения микронапряжений в образце, определения степени кристалличности, определение структур и их уточнение методом Ритвельда.
Назначение
Назначение и технические характеристики Порошковый дифрактометр предназначен для количественного и качественного рентгеноструктурного анализа, индицирования и определения параметров ячейки, определения размеров кристаллитов, определения микронапряжений в образце, определения степени кристалличности, определение структур и их уточнение методом Ритвельда. Основные характеристики: -используемое излучение: CuKα; -детектор: точечный или линейный VANTEC (захват интервала 2θ в 8°); -типы возможных образцов: поликристаллы, керамика, таблетки, пленки, полимеры, ситаллы, стекла; -геометрия: Брегга-Брентано,максимально возможный угловой интервал –110 < 2θ < 167; -имеется температурная приставка Anton Paar TTK450; -интервал температур от –160 до 450°С.
Техническое описание
Параметры и применение.
Назначение и технические характеристики Порошковый дифрактометр предназначен для количественного и качественного рентгеноструктурного анализа, индицирования и определения параметров ячейки, определения размеров кристаллитов, определения микронапряжений в образце, определения степени кристалличности, определение структур и их уточнение методом Ритвельда.
Основные характеристики: -используемое излучение: CuKα; -детектор: точечный или линейный VANTEC (захват интервала 2θ в 8°); -типы возможных образцов: поликристаллы, керамика, таблетки, пленки, полимеры, ситаллы, стекла; -геометрия: Брегга-Брентано,максимально возможный угловой интервал –110 < 2θ < 167; -имеется температурная приставка Anton Paar TTK450; -интервал температур от –160 до 450°С.