Оборудование · 16
Электронный микроскоп
Сканирующий электронный микроскоп S5500 использует in-lens технологию для получения как сверхвысокого разрешения, так высокой чувствительности EDS анализа
Назначение
Сканирующий электронный микроскоп S5500 использует in-lens технологию для получения как сверхвысокого разрешения, так высокой чувствительности EDS анализа. Электронная пушка – полевая эмиссия с холодным катодом, ускоряющее напряжение – 5-30 кВ. Микроскоп оборудован EDS спектрометром, позволяет проводить рентгено- флуоресцентный анализ и картирование образца. Разрешение во вторичных электронах: 0,4 нм при 30 кВ Высота образца 1 мм; 1,6 нм при 1 кВ Высота образца 2 мм. Система сфокусированного ионного пучка FB-2100 Система сфокусированного ионного пучка FB-2100 используется для быстрой и прецизионной подготовки образцов для сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии. Травление и резка образца с микрометровой точностью; Ионы Ga (Uacc=10-40 кВ, скорость травления в 4 раза выше чем у аналогов); Сканирующий Ионный Микроскоп (SIM) с разрешением = 6нм; Возможность осаждения С и W; Держатель для образцов совместимый с микроскопами Hitachi; Уникальная система для отбора микропроб из образца
Техническое описание
Параметры и применение.
Сканирующий электронный микроскоп S5500 использует in-lens технологию для получения как сверхвысокого разрешения, так высокой чувствительности EDS анализа. Электронная пушка – полевая эмиссия с холодным катодом, ускоряющее напряжение – 5-30 кВ. Микроскоп оборудован EDS спектрометром, позволяет проводить рентгено- флуоресцентный анализ и картирование образца. Разрешение во вторичных электронах: 0,4 нм при 30 кВ Высота образца 1 мм; 1,6 нм при 1 кВ Высота образца 2 мм. Система сфокусированного ионного пучка FB-2100 Система сфокусированного ионного пучка FB-2100 используется для быстрой и прецизионной подготовки образцов для сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии. Травление и резка образца с микрометровой точностью; Ионы Ga (Uacc=10-40 кВ, скорость травления в 4 раза выше чем у аналогов); Сканирующий Ионный Микроскоп (SIM) с разрешением = 6нм; Возможность осаждения С и W; Держатель для образцов совместимый с микроскопами Hitachi; Уникальная система для отбора микропроб из образца